Number of the records: 1

2D detekční systém pro odražené elektrony v UHV SLEEM

SYSNO ASEP	0550700
Document Type	L - Prototype, Functional Specimen
R&D Document Type	Prototype, Functional Specimen
RIV Subspecies	Functional Specimen
Title	2D detekční systém pro odražené elektrony v UHV SLEEM
Title	2D detection system for reflected electrons in UHV SLEEM
Author(s)	Konvalina, Ivo (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Sýkora, Jiří (UPT-D) Piňos, Jakub (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Materna Mikmeková, Eliška (UPT-D)_{ORCID, RID, SAI}
Year of issue	2021
Int.Code	APL-2021-09
Technical parameters	Funkční vzorek 2D detekčního systému tvoří příruba s nosičem, na němž je uložena deska plošného spoje osazená senzorem a elektronickými součástkami. Součástí detektoru je řídící elektronika a obslužný software.
Economic parameters	Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Ivo Konvalina, Ph.D., kimiki@isibrno.cz.
Owner Name	Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Registration Number of the result owner	68081731
Applied result category by the cost of its creation	A - Vyčerpaná část nákladů <= 5 mil. Kč
License fee fee	Z - Poskytovatel licence nepožaduje v některých případech licenční poplatek
Internal identification code of the product assigned by its creator, Regulation no.,	APL-2021-09
Language	cze - Czech
Country	CZ - Czech Republic
Keywords	pixelated detector ; scanning ; low energy electron microscopy ; reflected electrons
Subject RIV	JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
OECD category	Electrical and electronic engineering
R&D Projects	TN01000008 GA TA ČR - Technology Agency of the Czech Republic (TA ČR)
Institutional support	UPT-D - RVO:68081731
Annotation	Funkční vzorek byl navržen a vyroben pro ultravysokovakuový rastrovací nízkoenergiový elektronový mikroskop, který pracuje v energiovém rozsahu od 5 keV až do jednotek eV. Zejména při nízkých energiích dopadu jsou signální elektrony kolimovány k optické ose a vstupují do objektivové čočky. Mikroskop je vybaven mimoosovým detekčním systémem, který pomocí projekčního tubusu umožňuje zformovat svazek odražených signálních elektronů a jeho zvětšenou stopu promítnout do detekční roviny pixelového detektoru. Pixelový detektor umožňuje studium úhlového rozložení signálních elektronů.
Description in English	Functional sample was designed and assembled for an ultrahigh vacuum scanning low energy electron microscope that operates in the energy range from 5 keV to eV units. Especially at low landing energies, the signal electrons are collimated to the optical axis and enter the objective lens. The microscope is equipped with an off-axis detection system, which uses a projection column to form a beam of reflected signal electrons and project its enlarged spot into the detection plane of the pixelated detector. The pixelated detector enables the study of the angular distribution of signal electrons.
Workplace	Institute of Scientific Instruments
Contact	Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
Year of Publishing	2022

Number of the records: 1