Number of the records: 1  

Interferometrický systém pro měření deformace tenkých membrán

  1. 1.
    SYSNO ASEP0482753
    Document TypeC - Proceedings Paper (int. conf.)
    R&D Document TypeConference Paper
    TitleInterferometrický systém pro měření deformace tenkých membrán
    TitleInterferometrical system for bulge test thin film characterization
    Author(s) Pikálek, Tomáš (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Holzer, Jakub (UFM-A) ORCID
    Tinoco, H.A. (CO)
    Buchta, Zdeněk (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Lazar, Josef (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Chlupová, Alice (UFM-A) RID, ORCID
    Náhlík, Luboš (UFM-A) RID, ORCID
    Sobota, Jaroslav (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Fořt, Tomáš (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Kruml, Tomáš (UFM-A) RID, ORCID
    Number of authors10
    Source TitleSborník příspěvků multioborové konference LASER57. - Brno : Ústav přístrojové techniky AV ČR, 2017 / Růžička Bohdan - ISBN 978-80-87441-21-3
    Pagess. 39-40
    Number of pages2 s.
    Publication formPrint - P
    ActionLASER57
    Event date08.11.2017 - 10.11.2017
    VEvent locationTřešť
    CountryCZ - Czech Republic
    Event typeEUR
    Languagecze - Czech
    CountryCZ - Czech Republic
    Keywordsinterferometry ; thin layers
    Subject RIVBH - Optics, Masers, Lasers
    OECD categoryOptics (including laser optics and quantum optics)
    Subject RIV - cooperationInstitute of Physics of Materials - Solid Matter Physics ; Magnetism
    R&D ProjectsED0017/01/01 GA MŠMT - Ministry of Education, Youth and Sports (MEYS)
    LO1212 GA MŠMT - Ministry of Education, Youth and Sports (MEYS)
    Institutional supportUPT-D - RVO:68081731 ; UFM-A - RVO:68081723
    AnnotationMechanické vlastnosti tenkých vrstev se mohou výrazně lišit od běžných materiálů. Příkladem metody pro jejich měření je například nanoindentace založená na zatlačování miniaturního hrotu do materiálu. Jinou metodou je tzv. bulge test, který je založen na určení mechanických vlastností (obvykle Youngova modulu a reziduálního napětí) samonosných tenkých vrstev (membrán) z jejich deformace při aplikování diferenčního tlaku z jedné jejich strany. Pro měření tvaru membrán během tohoto bulge testu byl vyvinut interferometrický systém.
    Description in EnglishBehavior of thin film materials undergoing stress and deformation differs from bulk materials. A common method for the mechanical characterization of thin films is nanoindentation based on indenting a small tip into the material. A different approach is a bulge test technique. In this method, a differential pressure is applied on a free-standing membrane and the mechanical properties (Young’s modulus and residual stress) are calculated from the shape of the bulged membrane. In our experiments, we developed an interferometrical system for the membrane shape measurement during the bulge test.
    WorkplaceInstitute of Scientific Instruments
    ContactMartina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
    Year of Publishing2018
Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.