Number of the records: 1
Vliv excitační vlnové délky na měření a interpretaci Ramanovských spekter tenkých vrstev křemíku
SYS 0356810 LBL 01569^^^^^2200301^^^450 005 20240103194906.1 100 $a 20110223d m y slo 03 ba 101 0-
$a cze 102 $a CZ 200 1-
$a Vliv excitační vlnové délky na měření a interpretaci Ramanovských spekter tenkých vrstev křemíku 215 $a 4 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0356809 $1 010 $a 978-80-254-8633-7 $1 200 1 $a Sborník příspěvků zimního odborného a vzdělávacího semináře $v S. 9-12 $1 210 $a Praha $c Fyzikální ústav AV ČR $d 2010 $1 702 1 $a Remeš $b Z. $4 340 541 1-
$a Effect of excitation wavelength on the measurement and interpretation of the Raman spectra of the silicon thin films $z eng 610 0-
$a excitation wavelength 610 0-
$a Raman spectra 700 -1
$3 cav_un_auth*0100351 $a Ledinský $b Martin $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Number of the records: 1