Number of the records: 1
Charakterizace strukturních a elektrických vlastností organických heterostruktur skenovacími rastrovacími metodami
- 1.
SYSNO 0320868 Title Charakterizace strukturních a elektrických vlastností organických heterostruktur skenovacími rastrovacími metodami Title Characterization of structural and electronic properties of organic heterostructures by scanning probe techniques Author(s) Čermák, Jan (FZU-D) RID, SAI, ORCID
Rezek, Bohuslav (FZU-D) RID, ORCID
Cimrová, Věra (UMCH-V) RID, ORCID
Hörhold, H. H. (DE)
Ledinský, Martin (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Fejfar, Antonín (FZU-D) RID, ORCID, SAISource Title Sborník příspěvků ze 3. České fotovoltaické konference. S. 31-33. - Rožnov pod Radhoštěm : Czech RE Agency, 2008 Conference Česká fotovoltaická konference /3./, Brno, 03.11.2008-05.11.2008 Document Type Konferenční příspěvek (zahraniční konf.) Grant LC06040 GA MŠMT - Ministry of Education, Youth and Sports (MEYS), CZ - Czech Republic KAN400100701 GA AV ČR - Academy of Sciences of the Czech Republic (AV ČR) LC510 GA MŠMT - Ministry of Education, Youth and Sports (MEYS) GD202/05/H003 GA ČR - Czech Science Foundation (CSF), CZ - Czech Republic CEZ AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011) AV0Z40500505 - UMCH-V (2005-2011) Language cze Country CZ Keywords AFM * KFM * Raman scattering * organic semiconductors * photovoltaics Permanent Link http://hdl.handle.net/11104/0169605
Number of the records: 1