Number of the records: 1
Zobrazení hustoty stavů pomocí odrazu velmi pomalých elektronů
- 1.
SYSNO ASEP 0308441 Document Type K - Proceedings Paper (Czech conf.) R&D Document Type The record was not marked in the RIV Title Zobrazení hustoty stavů pomocí odrazu velmi pomalých elektronů Author(s) Pokorná, Zuzana (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCIDSource Title Mikroskopie 2008. - Praha : Československá mikroskopická společnost, 2008 / Frank Luděk - ISBN N
S. 37Number of pages 1 s. Action Mikroskopie 2008 Event date 07.02.2008-08.02.2008 VEvent location Nové Město na Moravě Country CZ - Czech Republic Event type EUR Language cze - Czech Country CZ - Czech Republic Subject RIV JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering CEZ AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011) Workplace Institute of Scientific Instruments Contact Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Year of Publishing 2008
Number of the records: 1