Number of the records: 1
Profilometry with sub-nanometre precision by Raman spectroscopy
SYS 0479964 LBL 01000a^^22220027750^450 005 20240103214741.2 017 $2 DOI 100 $a 20171019d m y slo 03 ba 101 $a eng 200 1-
$a Profilometry with sub-nanometre precision by Raman spectroscopy 215 $a 1 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0479947 $1 010 $a 978-80-87294-68-0 $1 200 1 $a NANOCON 2016. List of Abstracts $v S. 56-56 $1 210 $a Ostrava $c Tanger Ltd. $d 2016 $1 702 1 $4 340 $a Shrbená $b J. 610 $a Raman spectroscopy 610 $a amorphous silicon thin film 610 $a back-contacted heterojunction solar cells 610 $a graphene 610 $a 2D multilayer materials 700 -1
$3 cav_un_auth*0100351 $a Ledinský $b Martin $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0308021 $a Hájková $b Zdeňka $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0240734 $a Vetushka $b Aliaksi $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $y CZ $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0341174 $a Tomasi $b A. $y CH 701 -1
$3 cav_un_auth*0341172 $a Paviet-Salomon $b B. $y CH 701 -1
$3 cav_un_auth*0281939 $a Despeisse $b M. $y CH 701 -1
$3 cav_un_auth*0321295 $a Řáhová $b Jaroslava $i Odd. elektrochemických materiálů $j Dept. of Electrochemical Materials $p UFCH-W $w Electrochemical Materials $T Ústav fyzikální chemie Jaroslava Heyrovského AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0017256 $a Frank $b O. $y CZ 701 -1
$3 cav_un_auth*0341175 $a De Wolf $b S. $y SA 701 -1
$3 cav_un_auth*0280016 $a Ballif $b C. $y CH 701 -1
$3 cav_un_auth*0100196 $a Fejfar $b Antonín $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Number of the records: 1