Number of the records: 1
Profilometrie pomocí interference bílého světla
- 1.
SYSNO ASEP 0133767 Document Type C - Proceedings Paper (int. conf.) R&D Document Type Conference Paper Title Profilometrie pomocí interference bílého světla Title Profilometry by means of white light interference Author(s) Pavlíček, Pavel (FZU-D) RID, ORCID, SAI ISBN 80-214-2109-6 Source Title Inženýrská mechanika 2002 / Houfek L. ; - Hlavoň P. ; - Krejčí P.. - Brno : Institute of Mechanics of Solids, Faculty of Mechanical Enginnering Brno, University of Technology Brno, 2002 Pages s. x Publication form CD-ROM - CD-ROM Action Inženýrská mechanika 2002 Event date 13.05.2002-16.05.2002 VEvent location Svratka Country CZ - Czech Republic Event type WRD Language cze - Czech Country CZ - Czech Republic Keywords profilometry ; interference ; white-light ; height profile ; rough surface Subject RIV BH - Optics, Masers, Lasers R&D Projects LN00A015 GA MŠMT - Ministry of Education, Youth and Sports (MEYS) CEZ AV0Z1010921 - FZU-D Annotation Profilometrie pomocí interference světla je metoda vhodná pro prověření topologie technických prvků, Jedná se o bezkontaktní optickou metodu, při které je proměřen výškový profil předmětu s přesností přibližne 1ćm. Description in English Profilometry by means of white-light interference is a suitable method for measurement of topology of rough surfaces. This contactless optical method measures the height profile with an uncertainly of about 1ćm. Workplace Institute of Physics Contact Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Year of Publishing 2003
Number of the records: 1