Number of the records: 1
Electron Beam Induced Mass Loss Dependence on Stained Thin Epon Resin Sections
SYS 0465206 LBL 01000a^^22220027750^450 005 20240103212926.9 017 $a 10.1017/S143192761600547X $2 DOI 100 $a 20161114d m y slo 03 ba 101 $a eng $d eng 102 $a US 200 1-
$a Electron Beam Induced Mass Loss Dependence on Stained Thin Epon Resin Sections 215 $a 2 s. $c P 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0254367 $1 011 $a 1431-9276 $e 1435-8115 $1 200 1 $a Microscopy and Microanalysis $v Roč. 22, S3 (2016), s. 926-927 $1 210 $c Cambridge University Press 610 $a TEM 610 $a STEM 610 $a EFTEM 700 -1
$3 cav_un_auth*0323997 $a Skoupý $b Radim $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*1105972 $a Nebesářová $b Jana $i PAU - Organismální a evoluční parazitologie $j Organismal and Evolutionary Parasitology $p BC-A $w Aquatic Parasitology $T Biologické centrum AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0286053 $a Krzyžánek $b Vladislav $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Number of the records: 1