Number of the records: 1
Mapping of the microscopic strain using scanning low energy electron microscopy
- 1.
SYSNO 0353106 Title Mapping of the microscopic strain using scanning low energy electron microscopy Author(s) Mikmeková, Šárka (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Hovorka, Miloš (UPT-D)
Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Man, O. (CZ)
Pantělejev, L. (CZ)
Kouřil, M. (CZ)Source Title Mikroskopie 2010. S. 20. - Nové Město na Moravě : Československá mikroskopická společnost, 2010 / Frank L. ; Hozák P. Conference Mikroskopie 2010, Nové Město na Moravě, 17.02.2010-18.02.2010 Document Type Konferenční příspěvek (tuzemská konf.) CEZ AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011) Language eng Country CZ Keywords SEM * SLEEM * UFG Permanent Link http://hdl.handle.net/11104/0006216
Number of the records: 1