Number of the records: 1
Light trapping abilities of silicon thin films measured by Raman spectroscopy
SYS 0386621 LBL 02417^^^^^2200421^^^450 005 20240103201902.4 017 70
$a 10.4229/27thEUPVSEC2012-3CV.2.24 $2 DOI 100 $a 20130108d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng 102 $a DE 200 1-
$a Light trapping abilities of silicon thin films measured by Raman spectroscopy 215 $a 3 s. $c C 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0386428 $1 010 $a 3-936338-28-0 $1 200 1 $a Proceedings of the 27th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition $v S. 2431-2433 $1 210 $a München $c WIP Wirtschaft und Infrastruktur GmbH & Co Planungs KG $d 2012 $1 702 1 $a Nowak $b S. $4 340 610 0-
$a light trapping 610 0-
$a polycrystalline silicon (Si) 610 0-
$a thin film solar cell 610 0-
$a Raman spectoscopy 700 -1
$3 cav_un_auth*0100351 $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $a Ledinský $b Martin $p FZU-D $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0287473 $4 070 $a Hakl $b M. $y CZ 701 -1
$3 cav_un_auth*0255857 $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $a Ondič $b Lukáš $p FZU-D $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0287474 $4 070 $a Ganzerová $b K. $y CZ 701 -1
$3 cav_un_auth*0240734 $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $a Vetushka $b Aliaksi $p FZU-D $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100196 $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $a Fejfar $b Antonín $p FZU-D $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100295 $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $a Kočka $b Jan $p FZU-D $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Number of the records: 1