Number of the records: 1
Real structure characterization by x-ray diffraction
- 1.
SYSNO 0308658 Title Real structure characterization by x-ray diffraction Title Charakterizace reálné struktrury pomocí rtg difrakce Author(s) Drahokoupil, Jan (FZU-D) RID, ORCID
Michalcová, A. (CZ)
Gärtnerová, Viera (FZU-D) RID, ORCID
Kopeček, Jaromír (FZU-D) RID, ORCID
Hrabánek, Pavel (UFCH-W) RIDSource Title SEMDOK 2008. S. 5-8. - Žilina : University of Žilina, 2008 / Bokůvka O. Conference SEMDOK 2008, Súĺov, 31.01.2008-01.02.2008 Document Type Konferenční příspěvek (zahraniční konf.) Grant GA106/06/0019 GA ČR - Czech Science Foundation (CSF) GA106/07/0805 GA ČR - Czech Science Foundation (CSF) CEZ AV0Z10100520 - FZU-D (2005-2011) AV0Z40400503 - UFCH-W (2005-2011) Language eng Country SK Keywords X-ray diffraction * structure * phases Permanent Link http://hdl.handle.net/11104/0161068
Number of the records: 1