Number of the records: 1  

Real structure characterization by x-ray diffraction

  1. SYS0308658
    LBL
      
    01650^^^^^2200325^^^450
    005
      
    20240103190106.1
    100
      
    $a 20080602d m y slo 03 ba
    101
    0-
    $a eng
    102
      
    $a SK
    200
    1-
    $a Real structure characterization by x-ray diffraction
    215
      
    $a 4 s.
    463
    -1
    $1 001 cav_un_epca*0308657 $1 010 $a 978-80-8070-796-5 $1 200 1 $a SEMDOK 2008 $v S. 5-8 $1 210 $a Žilina $c University of Žilina $d 2008 $1 702 1 $a Bokůvka $b O. $4 340
    541
    1-
    $a Charakterizace reálné struktrury pomocí rtg difrakce $z cze
    610
    0-
    $a X-ray diffraction
    610
    0-
    $a structure
    610
    0-
    $a phases
    700
    -1
    $3 cav_un_auth*0100185 $a Drahokoupil $b Jan $p FZU-D $w Magnetic Materials $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0240016 $a Michalcová $b A. $y CZ $4 070
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0237309 $a Gärtnerová $b Viera $p FZU-D $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0215563 $a Kopeček $b Jaromír $p FZU-D $w Functional Metal Materials and Thin Films $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0108261 $a Hrabánek $b Pavel $p UFCH-W $w Structure and Dynamics in Catalysis $4 070 $T Ústav fyzikální chemie Jaroslava Heyrovského AV ČR, v. v. i.
Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.