Detekce sekundárních elektronů v REM

Number of the records: 1

1.

SYSNO ASEP	0308436
Document Type	K - Proceedings Paper (Czech conf.)
R&D Document Type	The record was not marked in the RIV
Title	Detekce sekundárních elektronů v REM
Title	Detection of secondary electrons in SEM
Author(s)	Konvalina, Ivo (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Hovorka, Miloš (UPT-D) Wandrol, P. (CZ) Mika, Filip (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Müllerová, Ilona (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Source Title	Mikroskopie 2008. - Praha : Československá mikroskopická společnost, 2008 / Frank Luděk - ISBN N S. 32
Number of pages	1 s.
Action	Mikroskopie 2008
Event date	07.02.2008-08.02.2008
VEvent location	Nové Město na Moravě
Country	CZ - Czech Republic
Event type	EUR
Language	cze - Czech
Country	CZ - Czech Republic
Keywords	detection systems ; secondary electrons ; SEM
Subject RIV	JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
CEZ	AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
Annotation	Tři systémy detektorů sekundárních elektronů byly simulovány za účelem zjištění, která část emitovaných sekundárních elektronů je detekována.
Description in English	The three detection systems of secondary electrons were simulated in order to determine which part of the emitted SEs is collected.
Workplace	Institute of Scientific Instruments
Contact	Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
Year of Publishing	2008

Number of the records: 1