Mapping of dopants in silicon by injection of electrons

Number of the records: 1

1.

SYSNO	0367163
Title	Mapping of dopants in silicon by injection of electrons
Author(s)	Hovorka, Miloš (UPT-D) Konvalina, Ivo (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Frank, Luděk (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Source Title	Mikroskopie 2011. S. 46. - Nové Město na Moravě : Československá mikroskopická společnost, 2011 / Frank L. ; Hozák P.
Conference	Mikroskopie 2011, Nové Město na Moravě, 17.02.2011-18.02.2011
Document Type	Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
CEZ	AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
Language	eng
Country	CZ
Keywords	mapping dopants * semiconductors
Permanent Link	http://hdl.handle.net/11104/0006670

Number of the records: 1