Number of the records: 1
Mapping of dopants in silicon by injection of electrons
- 1.HOVORKA, M., KONVALINA, I., FRANK, L. Mapping of dopants in silicon by injection of electrons. In: FRANK, L., HOZÁK, P., eds. Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2011, s. 46. ISBN N.
Number of the records: 1