Number of the records: 1  

Miniaturní zkušební přípravek 3 a 4 bodový ohyb pro použití ESPI

  1. 1.
    SYSNO ASEP0332761
    Document TypeL - Prototype, Functional Specimen
    R&D Document TypePrototype, Functional Specimen
    RIV SubspeciesFunctional Specimen
    TitleMiniaturní zkušební přípravek 3 a 4 bodový ohyb pro použití ESPI
    TitleMiniature 3 and 4 point bending fixture for application ESPI
    Author(s) Čupera, Pavel (UFM-A)
    Chlup, Zdeněk (UFM-A) RID, ORCID
    Dlouhý, Ivo (UFM-A) RID, ORCID
    Year of issue2009
    Int.CodeKL08/3
    SResult web page, Location of the resultLomově mechanická laboratoř, ÚFM AVČR, Žižkova 22, 616 62 Brno
    Technical parametersPřípravek dovoluje zatěžování vzorků s délkou větší než 11 mm ve tříbodovém a čtyřbodovém ohybu se současným snímáním difrakčních spekter sloužících k identifikaci lokálních deformací.
    Economic parametersPřípravek umožňuje zatěžování velmi malých zkušebních těles ve tří a čtyřbodovém ohybu s aplikací ESPI snímače pro 3D povrchovou deformaci. Lze tedy studovat (in-situ) děje v okolí čela trhliny.
    Owner NameÚstav fyziky materiálů AV ČR, v. v. i. Brno
    Registration Number of the result owner68081723
    Applied result category by the cost of its creationA - Vyčerpaná část nákladů <= 5 mil. Kč
    Use by another entityN - Využití výsledku jiným subjektem je možné bez nabytí licence
    License fee feeN - Poskytovatel licence nepožaduje licenční poplatek
    Languagecze - Czech
    CountryCZ - Czech Republic
    KeywordsTest fixture ; ESPI ; fracture behaviour
    Subject RIVJL - Materials Fatigue, Friction Mechanics
    CEZAV0Z20410507 - UFM-A (2005-2011)
    AnnotationPřípravek je určen k zatěžování vzorků s délkou větší než 11 mm ve tříbodovém a čtyřbodovém ohybu se současným snímáním difrakčních spekter sloužících k identifikaci lokálních deformací pomocí ESPI měřícího systému.
    Description in EnglishFixture allows loading of subsized specimens having length bigger than 11mm together with recording of difraction patterns. The difraction patterns are used for local deformation identification using an ESPI system.
    WorkplaceInstitute of Physics of Materials
    ContactYvonna Šrámková, sramkova@ipm.cz, Tel.: 532 290 485
    Year of Publishing2011
Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.