Number of the records: 1
High-pass energy-filtered photoemission electron microscopy imaging of dopants in silicon
SYS 0308203 LBL 03048^^^^^2200337^^^450 005 20240103190041.4 014 $a 000254614600007 $2 WOS 100 $a 20080528d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng $d eng 102 $a GB 200 1-
$a High-pass energy-filtered photoemission electron microscopy imaging of dopants in silicon 215 $a 6 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0257031 $1 011 $a 0022-2720 $e 1365-2818 $1 200 1 $a Journal of Microscopy $v Roč. 230, č. 1 (2008), s. 42-47 $1 210 $c Wiley 541 1-
$a Studium vlastností dotovaného křemíku pomocí fotoemisní elektronové mikroskopie s využitím energiového filtru $z cze 610 0-
$a dopants 610 0-
$a energy-filtered imaging 610 0-
$a PEEM 610 0-
$a silicon 700 -1
$3 cav_un_auth*0052204 $a Hovorka $b Miloš $p UPT-D $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101547 $a Frank $b Luděk $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0051973 $a Valdaitsev $b D. $y DE $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0051975 $a Nepijko $b S. $y DE $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0051976 $a Elmers $b H. $y DE $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0051977 $a Schönhense $b G. $y DE $4 070
Number of the records: 1