Number of the records: 1
Nanometric deformations of thin Nb layers under a strong electric field using soft x-ray laser interferometry
- 1.
SYSNO 0025706 Title Nanometric deformations of thin Nb layers under a strong electric field using soft x-ray laser interferometry Title Měření nanometrických deformací tenkých Nb vrstev za přítomnosti silného elektrického pole s pomocí rentgenové interferometrie Author(s) Jamelot, G. (FR)
Ros, D. (FR)
Carillon, A. (FR)
Rus, Bedřich (FZU-D) ORCID
Mocek, Tomáš (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Kozlová, Michaela (FZU-D) RID, ORCID
Präg R., Ansgar (FZU-D)
Joyeux, D. (FR)
Phalippou, D. (FR)
Boussoukaya, M. (FR)
Kalmykow, M. (FR)
Ballester, F. (FR)
Jacques, E. (FR)Source Title Journal of Applied Physics. Roč. 98, - (2005), 044308/1-044308/8. - : AIP Publishing Document Type Článek v odborném periodiku Grant LN00A100 GA MŠMT - Ministry of Education, Youth and Sports (MEYS), CZ - Czech Republic IAA1010014 GA AV ČR - Academy of Sciences of the Czech Republic (AV ČR) HPRI-00108, XE - EU countries CEZ AV0Z10100523 - FZU-D (2005-2011) Language eng Country US Keywords x-ray laser * x-ray interferometry Permanent Link http://hdl.handle.net/11104/0116070
Number of the records: 1