Number of the records: 1  

SMV-2019-06: Vývoj testovacích preparátů pro REM

  1. 1.
    SYSNO ASEP0518131
    Document TypeV - Research Report
    R&D Document TypeV - Research Report
    TitleSMV-2019-06: Vývoj testovacích preparátů pro REM
    TitleSMV-2019-06: Development of test specimens for SEM
    Author(s) Matějka, Milan (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Horáček, Miroslav (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Meluzín, Petr (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Chlumská, Jana (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Král, Stanislav (UPT-D) RID, SAI
    Kolařík, Vladimír (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Krátký, Stanislav (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Knápek, Alexandr (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Number of authors8
    Issue dataBrno: TESCAN Brno s.r.o., 2019
    Number of pages4 s.
    Publication formPrint - P
    Languagecze - Czech
    CountryCZ - Czech Republic
    Keywordscalibration specimen ; relief structure ; e-beam lithography ; silicon etching ; microlithography
    Subject RIVBH - Optics, Masers, Lasers
    OECD categoryNano-processes (applications on nano-scale)
    Next sourceNon-public resources
    AnnotationSmluvní výzkum se týká vývoj v oblasti přípravy přesných reliéfních struktur v křemíku určených pro testování zobrazování v rastrovacích elektronových mikroskopech (REM). Pro přípravu preparátů jsou vyvíjeny mikro litografické techniky opracování křemíku a další související technologické postupy.
    Description in EnglishContract research is concerned with the development of precision relief structures in silicon for testing of scanning electron microscopy (REM) imaging. Micro lithographic techniques for silicon processing and other related technological processes have been developed for the calibration specimen preparation.
    WorkplaceInstitute of Scientific Instruments
    ContactMartina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
    Year of Publishing2020
Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.