Number of the records: 1
Practical Use of Scanning Low Energy Electron Microscope (SLEEM)
SYS 0465457 LBL 01000a^^22220027750^450 005 20240103212941.8 017 $a 10.1017/S1431927616009090 $2 DOI 100 $a 20161114d m y slo 03 ba 101 $a eng $d eng 102 $a US 200 1-
$a Practical Use of Scanning Low Energy Electron Microscope (SLEEM) 215 $a 2 s. $c P 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0254367 $1 011 $a 1431-9276 $e 1435-8115 $1 200 1 $a Microscopy and Microanalysis $v Roč. 22, S3 (2016), s. 1650-1651 $1 210 $c Cambridge University Press 610 $a scanning low energy 610 $a SLEEM 700 -1
$3 cav_un_auth*0101598 $a Müllerová $b Ilona $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0258032 $a Mikmeková $b Eliška $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0244354 $a Mikmeková $b Šárka $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101580 $a Konvalina $b Ivo $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101547 $a Frank $b Luděk $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Number of the records: 1