Number of the records: 1  

Bodová neinvazivní analýza miniatur přenosnými a laboratorními nástroji: metodika pro specifické použití ve výzkumu miniaturního malířství

  1. 1.
    SYSNO ASEP0569799
    Document TypeL3 - Realized Certified Methodology
    R&D Document TypeRealized Certified Methodology, Medical Treatment Procedure, Historic Heritage Preservation Procedure, Specialized Map
    RIV SubspeciesSchválená metodika
    TitleBodová neinvazivní analýza miniatur přenosnými a laboratorními nástroji: metodika pro specifické použití ve výzkumu miniaturního malířství
    TitleNoninvasive spot analysis of miniatures with portable and laboratory instruments: a methodology for specific use in miniature painting research
    Author(s) Kočí, Eva (UACH-T) SAI, RID
    Bezdička, Petr (UACH-T) SAI, RID, ORCID
    Hradil, David (UACH-T) RID, SAI
    Garrappa, Silvia (UACH-T) ORCID, RID, SAI
    Hradilová, J. (CZ)
    Pech, M. (CZ)
    Year of issue2022
    Int.Code4/2022
    Technical parametersMetodika popisuje spektroskopické a difrakční instrumentální metody analýzy miniatur včetně technických parametrů jejich nastavení pro šetrný neinvazivní výzkum, a to na základě certifikovaného postupu Ministerstva kultury ČR č. 253.
    Economic parametersMetodika přispívá k širší aplikaci neinvazivního materiálového výzkumu v praxi památkové péče o sbírkové fondy, který je levnější a také šetrnější k vlastním dílům.
    Internal identification code of the product assigned by its creator, Regulation no.,253
    Current use of the resultC - Výsledek je využíván bez omezení druhu uživatelů
    Certifying bodyMinisterstvo kultury ČR, Maltézské náměstí 1, 1180 00 Praha 1
    Certificate issue date21.07.2022
    Languagecze - Czech
    CountryCZ - Czech Republic
    Keywordsportrait miniature ; analysis ; spectroscopic methods ; X-ray fluorescence ; X-ray diffraction
    Subject RIVCB - Analytical Chemistry, Separation
    OECD categoryAnalytical chemistry
    R&D ProjectsDG18P02OVV034 GA MK - Ministry of Culture (MK)
    AnnotationMetodika přináší ucelený postup neinvazivní materiálové analýzy malovaných miniaturních děl, přičemž je rozdělená na dvě navazující části. V první části popisuje využití přenosných přístrojů pro spektroskopickou analýzu miniatur, a v druhém se zabývá aplikací nového metodického postupu pro fázovou/strukturní materiálovou analýzu založeného na rtg. práškové difrakci. Metodika tedy zahrnuje následující postupy: (i) zjištění prvkového složení barevné vrstvy metodou rtg. fluorescenční analýzy, (ii) identifikaci pojiv a dalších organických složek pomocí infračervené spektroskopie (FT-IR), a nakonec (iii) analýzu fázovou/mineralogickou a strukturní k podrobnějšímu popisu použitých pigmentů a procesů jejich degradace. V rámci tohoto posledního kroku jsou popsány limity Ramanovy spektroskopie (RS) a výhody práškové difrakce a mikrodifrakce (XRPD a mikro-XRPD), k nimž patří i vyšší šetrnost k analyzovaným dílům. Je tak nabízen velmi souborný a především neinvazivní metodický postup analýzy miniatur, který využívá komplementaritu jednotlivých metod a který lze zčásti aplikovat již in situ (přímo ve sbírkových institucích) a zčásti na specializovaných pracovištích.
    Description in EnglishThe methodology brings a comprehensive procedure of non-invasive materials analysis of painted miniature artworks, while it is divided into two subsequent parts. In the first part, it describes the use of portable devices for spectroscopic analysis of miniatures, and in the second, it deals with the application of a new methodological procedure for phase/structural materials analysis based on X-ray powder diffraction. The methodology thus includes the following procedures: (i) determination of the elemental composition of the colour layer by the x-ray fluorescence analysis, (ii) identification of binders and other organic compounds using infrared spectroscopy (FT-IR), and finally (iii) phase/mineralogical and structural analysis to describe in more detail the pigments used and processes of their degradation. As part of this last step, the limits of Raman spectroscopy (RS) and the advantages of powder X-ray diffraction and micro-diffraction (XRPD and micro-XRPD) are described, which include greater gentleness to the analysed objects. A very complete and above all non-invasive methodological procedure for the analysis of miniatures is thus offered, which uses the complementarity of individual methods and which can be partly applied already in situ (directly in collection institutions) and partly at specialized workplaces.
    WorkplaceInstitute of Inorganic Chemistry
    ContactJana Kroneislová, krone@iic.cas.cz, Tel.: 311 236 931
    Year of Publishing2023
    Electronic addresshttps://invenio.nusl.cz/record/507840/files/nusl-507840_1.pdf?version=1
Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.