Number of the records: 1

Autoemisní mikroskop pro analýzu hrotu sondy

SYSNO ASEP	0566529
Document Type	P1 - Utility model, Industrial Design
R&D Document Type	Results of legal proteciton (Utility Model , Industrial Design)
RIV Subspecies	Užitný vzor
Title	Autoemisní mikroskop pro analýzu hrotu sondy
Title	Field emission microscope for probe tip analysis
Author(s)	Knápek, Alexandr (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Dupák, Libor (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Matějka, Milan (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI}
Year of issue	2022
Publication form	Print - P
Name of the patent owner	Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Adress	Brno
Date of the utility model acceptance	26.05.2022
Utility model number	36068
Licence fee	A - Poskytovatel licence požaduje licenční poplatek
Current use	B - Patent je využíván na základě uzavřené licenční smlouvy mezi vlastníkem a uživatelem
Use by another entity	A - Pro využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence
Code of the issuer name	CZ001 - Úřad průmyslového vlastnictví Prague
Language	cze - Czech
Keywords	field emission microscope ; SPM probe analysis
Subject RIV	JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
OECD category	Electrical and electronic engineering
R&D Projects	FW03010504 GA TA ČR - Technology Agency of the Czech Republic (TA ČR)
Institutional support	UPT-D - RVO:68081731
Annotation	Technické řešení se týká autoemisního mikroskopu, který je určen pro analýzu hrotů sond pro rastrovací sondové mikroskopy. V současnosti neexistuje zařízení, které by umožnilo charakterizovat kvalitu sond pro rastrovací sondové mikroskopy, či je přímo srovnávat jinak nežli jejich přímým použitím v mikroskopu samotném. Stávající SPM mikroskopy sondy nijak nesrovnávají ani jakkoliv necharakterizují a uživatelé mikroskopů jsou přímo závislí na kvalitě sond, jejíž garance je na straně výrobce. Nejistota v opakovatelnosti výroby sond, tedy přímo vede k výkyvům kvality funkce rastrovacího hrotového mikroskopu, která je daná především sondou samotnou. Výše uvedené nevýhody dosavadního stavu techniky řeší předložené technické řešení, které umožňuje analýzu hrotových sond, která je založená na spojení měření autoemisního proudu z SPM sond a z testování naměřených charakteristik.
Description in English	The technical solution relates to an field-emission microscope designed for the analysis of probe tips for scanning probe microscopes. At present, there is no device to characterise the quality of probes for scanning probe microscopes or to compare them directly other than by direct use in the microscope itself. Existing SPM microscopes do not compare or characterise the probes in any way and microscope users are directly dependent on the quality of the probes, which is guaranteed by the manufacturer. The uncertainty in the repeatability of the production of the probes therefore leads directly to variations in the quality of the function of the scanning probe microscope, which is determined primarily by the probe itself. The above drawbacks of the state of the art are addressed by the presented technical solution, which allows the analysis of the tip probes based on the combination of the measurement of the autoemission current from the SPM probes and from the testing of the measured characteristics.
Workplace	Institute of Scientific Instruments
Contact	Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
Year of Publishing	2023
Electronic address	https://isdv.upv.cz/doc/FullFiles/UtilityModels/FullDocuments/FDUM0036/uv036068.pdf

Number of the records: 1