Number of the records: 1
Vývoj a testování fázových destiček
- 1.
SYSNO ASEP 0536670 Document Type O - Others R&D Document Type Others Title Vývoj a testování fázových destiček Title Development and testing of phase plates Author(s) Krátký, Stanislav (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Materna Mikmeková, Eliška (UPT-D) ORCID, RID, SAI
Fořt, Tomáš (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Radlička, Tomáš (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Sháněl, O. (CZ)Number of authors 5 Year of issue 2020 Language cze - Czech Country CZ - Czech Republic Keywords transmission electron microscope ; phase plates ; silicon nitride ; charging ; EELS Subject RIV JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering OECD category Electrical and electronic engineering R&D Projects TN01000008 GA TA ČR - Technology Agency of the Czech Republic (TA ČR) Institutional support UPT-D - RVO:68081731 Annotation Zpráva shrnuje výsledky dosažené při vývoji fázových destiček pro transmisní elektronovou mikroskopii. Velký důraz je kladený na popis přípravy fázových destiček na bázi silikon nitridu (v tloušťkách desítek nm), která je pokovená tenkou naprášenou vrstvou molybdenu pro zvýšení doby života fázové destičky a eliminaci elektrostatického náboje. Tloušťky vrstev byly optimalizované pro výsledný fázový posuv pi/2, který umožní zvýšení kontrastu zejména lehkých prvků v organických vzorcích. Description in English The report summarizes results which we reached in the development of phase plates for transmission electron microscopy. We focused on describing the phase plates with silicon nitride base layer (tens nm thick) covered by sputtered mMolybdenum's thin layer for an increase of the live-time and elimination of electrostatic charging. The thickness of layers was optimized for the final phase-shift of pi/2, enabling an increase of contrast for organic based samples. Workplace Institute of Scientific Instruments Contact Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Year of Publishing 2021
Number of the records: 1