Number of the records: 1
In-situ držák pro SEM umožňující zobrazování tenkých vzorků s možností práce při vyšších teplotách
- 1.
SYSNO ASEP 0498267 Document Type L - Prototype, Functional Specimen R&D Document Type Prototype, Functional Specimen RIV Subspecies Functional Specimen Title In-situ držák pro SEM umožňující zobrazování tenkých vzorků s možností práce při vyšších teplotách Title In-situ SEM holder for imaging of thin samples with possibility of imaging at high temperature Author(s) Skoupý, Radim (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Krzyžánek, Vladislav (UPT-D) RID, ORCID, SAINumber of authors 2 Year of issue 2018 Int.Code APL-2018-09 Technical parameters In-situ držák pro rastrovací elektronové mikroskopy (SEM) vybavené kryo-systémem typu Bal-Tec (Balzers, Lichtenštajnsko) a Leica microsystems (Vídeň, Rakousko) pro účely pozorování vzorků při vysokých teplotách. In-situ držák byl navržen pro pozorování velmi tenkých vzorků umístěných na TEM síťkách a to tak, aby bylo možné pozorování v transmisním módu pomocí retraktabilního STEM detektoru. Zároveň in-situ držák umožňuje pozorování vzorků pomocí detektoru pro energiově-disperzní analýzu paprsků rentgenového záření (EDX) a katodoluminiscenčního (CL) detektoru. In-situ držák je navržen takovým způsobem, aby jej bylo možné přenášet pomocí kryo-vakuového transferu VCT100 (Bal-Tec, Balzers, Lichtenštajnsko a Leica microsystems, Vídeň, Rakousko). In-situ držák umožňuje pevné uchycení až čtyř TEM sítěk standardních rozměrů (tj. průměr 3.05 mm) na konci ramene směřujícího od základny. Vzdálenost středu TEM sítěk od základny je 17 mm, což zaručuje možnost jeho použití pro většinu komerčně dostupných retraktabilních polovodičových STEM detektorů (testováno na STEM detektorech firmy FEI). Rozsah provozních teplot držáku je v rozmezí od pokojové teploty do 500 K. Economic parameters Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu s předpokladem smluvního využití s ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Ing. Radim Skoupý, ras@isibrno.cz Owner Name Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. Registration Number of the result owner 68081731 Applied result category by the cost of its creation A - Vyčerpaná část nákladů <= 5 mil. Kč License fee fee N - Poskytovatel licence nepožaduje licenční poplatek Internal identification code of the product assigned by its creator, Regulation no., APL-2018-09 Language cze - Czech Country CZ - Czech Republic Keywords In-situ SEM ; in-situ STEM ; in-situ holder Subject RIV JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering OECD category Electrical and electronic engineering R&D Projects TG03010046 GA TA ČR - Technology Agency of the Czech Republic (TA ČR) LO1212 GA MŠMT - Ministry of Education, Youth and Sports (MEYS) Institutional support UPT-D - RVO:68081731 Annotation Držák velmi tenkých vzorků pro jejich zobrazování v rastrovacím elektronovém mikroskopu (SEM) v transmisním módu pomocí STEM detektoru a zároveň umožňující jejich analýzu pomocí EDX nebo CL detektoru. Veškerá pozorování/analýzy jsou možné v teplotním rozsahu od pokojové teploty po 500 K. Description in English A new holder for investigations of very thin specimens in a scanning electron microscope (SEM) in the transmission mode using a STEM detector, enabling analysis by EDX or CL detector. All investigations/analysis are possible in the temperature range from room temperature to 500 K.
Workplace Institute of Scientific Instruments Contact Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Year of Publishing 2019
Number of the records: 1