Number of the records: 1
Laserový systém pro odměřování 3D polohy s nanometrovým rozlišením pro mikroskopy
- 1.
SYSNO 0385756 Title Laserový systém pro odměřování 3D polohy s nanometrovým rozlišením pro mikroskopy Title Laser system for measurement of the 3D position with nanometre resolution for microscopes Author(s) Lazar, Josef (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Hrabina, Jan (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Šerý, Mojmír (UPT-D) RID, SAI
Číp, Ondřej (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Čížek, Martin (UPT-D) RID, ORCID, SAISource Title Jemná mechanika a optika. Roč. 57, č. 10 (2012), s. 283-286. - : Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. Document Type Článek v odborném periodiku Grant GA102/09/1276 GA ČR - Czech Science Foundation (CSF) TA02010711 GA TA ČR - Technology Agency of the Czech Republic (TA ČR) TE01020233 GA TA ČR - Technology Agency of the Czech Republic (TA ČR) ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministry of Education, Youth and Sports (MEYS) GPP102/11/P820 GA ČR - Czech Science Foundation (CSF) Institutional support UPT-D - RVO:68081731 Language cze Country CZ Keywords coordinate position sensing * nanometrology * 3D position * atomic force microscopy * local probe techniques * electron microscopy Permanent Link http://hdl.handle.net/11104/0215570
Number of the records: 1