Number of the records: 1
Profiling N-Type Dopants in Silicon Structures
SYS 0335497 LBL 01036^^^^^2200265^^^450 005 20240103192719.9 100 $a 20100112d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng $d eng 102 $a CZ 200 1-
$a Profiling N-Type Dopants in Silicon Structures 215 $a 1 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0325105 $1 010 $a 978-80-7399-739-7 $1 200 1 $a Mikroskopia 2009 $v S. 25 $1 210 $a Brno $c Tribun EU $d 2009 $1 541 1 $a Microscopy 2009 $z eng 700 -1
$3 cav_un_auth*0052204 $a Hovorka $b Miloš $i S1: Elektronová optika a mikroskopie $j S1: Electron optics and microscopy $p UPT-D $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101596 $a Mika $b Filip $i S2: Speciální technologie $j S2: Special technologies $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101547 $a Frank $b Luděk $i S1: Elektronová optika a mikroskopie $j S1: Electron optics and microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Number of the records: 1