Number of the records: 1
O možnosti současného měření složení a tloušťky tenkých polovodičových vrstev Ga.sub.x./sub.In.sub.1-x./sub.As.sub.y./sub.P.sub.1-y./sub. na podložce InP
- 1.
SYSNO 0303430 Title O možnosti současného měření složení a tloušťky tenkých polovodičových vrstev GaxIn1-xAsyP1-y na podložce InP Document part 2. Sekce 7 až 15. Title Note on the simultaneous measurement of thickness and composition of GaxIn1-xAsyP1-y/InP thin films Author(s) Starý, V. (CZ)
Olšovec, P.
Jurek, Karel (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Peřina, Vratislav (UJF-V) RID
Kohout, Jindřich (URE-Y)Source Title 12. Konference českých a slovenských fyziků. Sborník příspěvků. s. 515-517 / Lesňák M. ; Luňáček J. ; Pištora J. Issue data Ostrava: VŠB Technická univerzita, 1996 Conference Konference českých a slovenských fyziků /12./, Ostrava, 02.09.1996-06.09.1996 Document Type Konferenční příspěvek (tuzemská konf.) Language cze Country CZ Keywords epitaxial layers * thin films * III-V semiconductors * electron probe analysis Permanent Link http://hdl.handle.net/11104/0113648
Number of the records: 1