Number of the records: 1
Electron spin resonance and optical characterization of defects in microcrystalline silicon
SYS 0132675 LBL 00000nam^^22^^^^^^^^450 005 20230418210338.9 101 0-
$a eng 102 $a NL 200 1-
$a Electron spin resonance and optical characterization of defects in microcrystalline silicon 215 $a 5 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0257058 $1 011 $a 0022-3093 $e 1873-4812 $1 200 1 $a Journal of Non-Crystalline Solids $v 266-269, - (2000), s. 519-523 $1 210 $c Elsevier 700 -1
$3 cav_un_auth*0100605 $a Vaněček $b Milan $p FZU-D $w Optical Materials $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100468 $a Poruba $b Aleš $p FZU-D $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100485 $a Remeš $b Zdeněk $p FZU-D $w Optical Materials $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100490 $a Rosa $b Jan $p FZU-D $w Optical Materials $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100280 $a Kamba $b Stanislav $p FZU-D $w Dielectrics $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100614 $a Vorlíček $b Vladimír $p FZU-D $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0016580 $a Meier $b J. $y CH $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0016592 $a Shah $b A. $y CH $4 070
Number of the records: 1