Number of the records: 1
Determination of carrier profiles on bevelled GaAs structures by PCIV method
- 1.
SYSNO 0105980 Title Determination of carrier profiles on bevelled GaAs structures by PCIV method Title Určení profilu nosičů na zešikmené GaAs struktuře pomocí PCIV metody Author(s) Kinder, R. (SK)
Srnánek, R. (SK)
Hulényi, L. (SK)
Walachová, Jarmila (URE-Y)
Tlaczala, M. (PL)
Sciana, B. (PL)
Radziewicz, D. (PL)Source Title Journal of Electrical Engineering - Elektrotechnický časopis. Roč. 55, 9-10 (2004), s. 261-264. - : Slovenská technická univerzita v Bratislave Document Type Článek v odborném periodiku Grant KSK1010104 GA AV ČR - Academy of Sciences of the Czech Republic (AV ČR), CZ - Czech Republic Language eng Country SK Keywords impurity distribution Permanent Link http://hdl.handle.net/11104/0013165
Number of the records: 1