Metoda dvou záření na určení velikosti krystalitů a mikrodeformací

0350639 - FZÚ 2011 RIV CZ cze J - Journal Article
Čerňanský, Marian
Metoda dvou záření na určení velikosti krystalitů a mikrodeformací.
[Method of two wavelengths for determination of crystallite size and microstrain.]
Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology. Roč. 17, 2a (2010), k88-k89. ISSN 1211-5894.
[Struktura 2010. Soláň, 14.06.2010-17.06.2010]
R&D Projects: GA AV ČR KAN300100801
Institutional research plan: CEZ:AV0Z10100520
Keywords : diffraction broadening * wavelength * microstrain * crystallite size
Subject RIV: BM - Solid Matter Physics ; Magnetism
http://www.xray.cz/ms/bul2010-2a/cernansky.pdf

Jsou odvozeny kvantitativní vztahy k určení velikosti krystalitů a mikrodeformací z difrakčního rozšíření linií změřeného se zářeními o dvou různých vlnových délkách. Případ více různých vlnových délek je rovněž diskutován.

There are derived quantitative relations for the estimation of crystallite size and microstrain from the diffraction broadening of lines, which were measured by the radiations with two different wavelengts. The case of more wavelengths is also discussed.
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0190587