Number of the records: 1  

Response of molecular solids to ultra-intense femtosecond soft x-ray pulses

  1. 1.
    0335967 - FZÚ 2010 RIV US eng C - Conference Paper (international conference)
    Chalupský, Jaromír - Juha, Libor - Hájková, Věra - Cihelka, Jaroslav - Vyšín, Luděk - Gautier, J. - Hajdu, J. - Hau-Riege, S.P. - Jurek, M. - Krzywinski, J. - London, R.A. - Papalazarou, E. - Pelka, J. B. - Rey, G. - Sebban, S. - Sobierajski, M. - Stojanovic, N. - Tiedtke, K. - Toleikis, S. - Tschentscher, T. - Valentin, C. - Wabnitz, H. - Zeitoun, P.
    Response of molecular solids to ultra-intense femtosecond soft x-ray pulses.
    [Odezva molekulárních pevných látek na ultra-intenzivní femtosekundové měkké rentgenové pulzy.]
    Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II. Bellingham: SPIE, 2009 - (Juha, L.; Bajt, S.; Sobierajski, R.), 736108/1-736108/9. Proceedings of SPIE, 7361. ISBN 9780819476357. ISSN 0277-786x.
    [Damage to VUV, EUV, and X-Ray Optics II. Prague (CZ), 21.04.2009-23.04.2009]
    R&D Projects: GA AV ČR KAN300100702; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA MŠMT LA08024; GA AV ČR IAA400100701; GA ČR GA203/06/1278
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z10100523
    Keywords : x-ray laser * high-order harmonics * free-electron laser * desorption * ablation * organic polymer
    Subject RIV: BH - Optics, Masers, Lasers
    http://dx.doi.org/10.1117/12.822297

    Ultra-fast soft x-ray lasers have opened a new area of laser-matter interactions which in most cases differ from the well understood interaction of UV-vis radiation with solid targets. The photon energy >30eV essentially exceeds the width of band gap in any known material and excites the electrons from the deep atomic and valence levels directly to the conduction band. Both thermal and non-thermal phenomena can occur in such a material being caused by electron thermalization and bond breaking, respectively. We report the first observation of non-thermal single-shot soft x-ray laser induced desorption occurring below the ablation threshold in a thin layer of poly (methyl methacrylate) - PMMA. Irradiated by the focused beam from the Free-electron LASer in Hamburg (FLASH) at 21.7nm, the samples have been investigated by an atomic-force microscope (AFM) enabling the visualization of mild surface modifications caused by the desorption.

    Prezentujeme první pozorování jednovýstřelové desorpce v tenké vrstvě poly (methylmetakrylátu) – PMMA, které bylo uskutečněno za pomoci laseru pracujícího v měkkém rentgenovém oboru, jehož špičková intenzita byla pod oblačním prahem tohoto materiálu. Vzorky ozářené fokusovaným svazkem laseru na volných elektronech (FLASH, Hamburg) na vlnové délce 21,7nm byly následně analyzovány prostřednictvím mikroskopu atomárních sil (AFM), který umožňuje zobrazovat i nepatrné změny povrchu způsobené desorpcí. Vytvořili jsme model popisující netepelnou desorpci a ablaci, který byl použit pro analýzu otisků svazku v PMMA způsobených jediným výstřelem. Navíc se nám podařilo odhalit třetí přechodový režim interakce, jehož existenci model předpověděl. Na zdroji vysokých harmonických (HOH) jsme pozorovali podprahové vícevýstřelové desorpční poškození PMMA na vlnové délce 32nm.
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0180307

     
     
Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.