Emission spectroscopy from an XUV laser irradiated solid target

0334254 - FZÚ 2010 RIV NL eng C - Conference Paper (international conference)
Dzelzainis, T.W.J. - Khattak, F.Y. - Nagler, B. - Vinko, S.M. - Whitcher, T. - Nelson, A.J. - Lee, R. W. - Bajt, S. - Toleikis, S. - Fäustlin, R. - Tschentscher, T. - Juha, Libor - Kozlová, Michaela - Chalupský, Jaromír - Hájková, Věra - Krzywinski, J. - Soberierski, R. - Jurek, M. - Fajardo, M. - Rosmej, F.B. - Heinmann, P. - Wark, J. S. - Riley, D.
Emission spectroscopy from an XUV laser irradiated solid target.
[Emisní spektroskopie na pevném terči ozářeném XUV laserem.]
X-Ray Lasers 2008. Dordrecht: Springer, 2009 - (Ciaran, L.; Riley, D.), s. 549-555. ISBN 978-1-4020-9923-6.
[International Conference on X-Ray Lasers /11th./. Belfast (GB), 17.08.2008-22.08.2008]
R&D Projects: GA AV ČR KAN300100702; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA MŠMT LA08024
Institutional research plan: CEZ:AV0Z10100523
Keywords : free-electron laser * XUV emission spectra * XUV laser * high-energy density
Subject RIV: BH - Optics, Masers, Lasers
http://www.springer.com/physics/optics/book/978-1-4020-9923-6

We have used the XUV FLASH laser at DESY to irradiate solid targets with intense XUV pulse at 13.5nm and ~1016 Wcm-2. XUV emission spectroscopy using a grating spectrometer has been used to observe both continuum radiation and line emission from Al IV. We present some preliminary results that indicate time integrated temperatures of below 20eV while simulation indicates higher initial temperatures.

XUV FLASH laser provozovaný na DESY jsme využili k ozáření pevného terče zářením o vlnové délce 13,5 nm při intenzitách ~ 10¹⁶ Wcm^-2. XUV emisní spektroskopie s mřížkovým spektrometrem nám umožnila sledovat čárovou i širokopásmovou emisi Al IV. Ze spekter byla určena elektronová teplota 20 eV.
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0179038