Surface analysis by imaging mass spectrometry

0330419 - MBÚ 2010 RIV CZ eng J - Journal Article
Vidová, Veronika - Volný, Michael - Lemr, Karel - Havlíček, Vladimír
Surface analysis by imaging mass spectrometry.
[Povrchová analýza pomocí zobrazovací hmotnostní spektrometrie.]
Collection of Czechoslovak Chemical Communications. Roč. 74, 7-8 (2009), s. 1101-1116. ISSN 0010-0765
Institutional research plan: CEZ:AV0Z50200510
Keywords : secondary ion mass spectrometry * matrix assisted laser desorption ionization * mass spectrometry
Subject RIV: CB - Analytical Chemistry, Separation
Impact factor: 0.856, year: 2009

A review of four MS-based technmiques availablw for molecular surface imaging is presented. The maind focus is on the commercially available mass spectrometry imaging techniques: secondary ion mass-spectrometry (SIMS)

V tomto minireview jsou obecně popsány čtyři hmotnostně-spektrometrické techniky, které jsou používány v analýze povrchů.
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0176210