Number of the records: 1
Detecting sp.sup.2./sup. phase on diamond surfaces by atomic force microscopy phase imaging and its effects on surface conductivity
- 1.0328164 - FZÚ 2010 RIV CH eng J - Journal Article
Kozak, Halyna - Kromka, Alexander - Ukraintsev, Egor - Houdková, Jana - Ledinský, Martin - Vaněček, Milan - Rezek, Bohuslav
Detecting sp2 phase on diamond surfaces by atomic force microscopy phase imaging and its effects on surface conductivity.
[[Detekce sp2 fáze na povrchu diamantu pomoci mikroskopii atomárních sil a její vliv na povrchovou vodivost.]
Diamond and Related Materials. Roč. 18, 5-8 (2009), s. 722-725. ISSN 0925-9635. E-ISSN 1879-0062
R&D Projects: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510; GA AV ČR KAN400100652
Institutional research plan: CEZ:AV0Z10100521
Keywords : nanocrystalline diamond * surface conductivity * non-diamond phase * photolithography * XPS * AFM * SEM * Raman spectroscopy
Subject RIV: BM - Solid Matter Physics ; Magnetism
Impact factor: 1.822, year: 2009
The effect of deposition parameters and chemical treatment on the surface conductivity of nanocrystalline diamond films was study by atomic force microscopy, XPS, SEM and Raman spectroscopy. The results indicate the decrease in sp2 amount and enhanced surface conductivity of the diamond surface after the chemical treatment.
Vliv depozičních parametrů a chemického leptání na povrchovou vodivost nanokrystalického diamantu byl studován pomocí mikroskopií atomárních sil, XPS, SEM a Ramanovy mikroskopie. Výsledky ukazují, že snížení sp2 fáze na povrchu diamantu po jeho chemickém leptání, vede ke zvýšení jeho povrchové vodivosti.
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0174545
Number of the records: 1