0133767 - FZU-D 20020148 RIV CZ cze C - Conference Paper (international conference)
Pavlíček, Pavel
Profilometrie pomocí interference bílého světla.
[Profilometry by means of white light interference.]
80-214-2109-6. In: Inženýrská mechanika 2002. Brno: Institute of Mechanics of Solids, Faculty of Mechanical Enginnering Brno, University of Technology Brno, 2002 - (Houfek, L.; - Hlavoň, P.; - Krejčí, P.), s. x. Inženýrská mechanika.
[Inženýrská mechanika 2002. Svratka (CZ), 13.05.2002-16.05.2002]
R&D Projects: GA MŠMT LN00A015
Institutional research plan: CEZ:AV0Z1010921
Keywords : profilometry * interference * white-light * height profile * rough surface
Subject RIV: BH - Optics, Masers, Lasers

Profilometrie pomocí interference světla je metoda vhodná pro prověření topologie technických prvků, Jedná se o bezkontaktní optickou metodu, při které je proměřen výškový profil předmětu s přesností přibližne 1ćm.

Profilometry by means of white-light interference is a suitable method for measurement of topology of rough surfaces. This contactless optical method measures the height profile with an uncertainly of about 1ćm.
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0031725