0105961 - URE-Y 20040121 RIV US eng C - Conference Paper (international conference)
Zavadil, Jiří - Žďánský, Karel - Procházková, Olga - Kozak, Halina
Characterization of InP epitaxial layers for use in radiation detection.
[Charakterizace epitaxních vrstev InP, vhodných pro detekci ionizujícího záření.]
ASDAM'2004. Proceedings of the Fifth International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems. Piscataway: IEEE, 2004 - (Osvald, J.; Haščík, Š.), s. 247-250. ISBN 0-7803-8535-7.
[Advanced Semiconductor Devices and Microsystems - ASDAM'04 /5./. Smolenice (SK), 17.10.2004-21.10.2004]
R&D Projects: GA ČR(CZ) GA102/03/0379; GA AV ČR(CZ) IBS2067354; GA AV ČR(CZ) KSK1010104
Keywords : semiconductors * photoluminescence * galvanomagnetic effects
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering

InP single crystals were grown by liquid phase epitaxy on semi-insulating InP:Fe and n-type InP:Sn substrates with cerium, thulium and europium additions to the growth melt. Grown layers were examined by low-temperature photoluminescence spectroscopy, C-V measurements and temperature dependent Hall measurements. All layers exhibit the change of electrical conductivity from n to p at certain RE concentration in the melt.

Monokrystalické epitaxní vrstvy InP připravené na semiizolačních (InP:Fe) substrátech a substrátech s n-typem vodivosti (InP:Sn) byly pěstovány s přidáním ceria, tulia a europia do růstové taveniny. Vrstvy byly vyšetřovány pomocí nízkoteplotní fotoluminescenční spektroskopie a měřením C-V závislostí a teplotních závislostí Hallova jevu. Všechny vrstvy vykazují změnu typu elektrické vodivosti z n na p při určité koncentraci vzácných zemin v tavenině.
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0013146