Number of the records: 1  

Polycrystalline Wafers of Silicalite-1 etched by HF Acid and Viewed by SEM

  1. 1.
    0101040 - UFCH-W 20040032 RIV NL eng J - Journal Article
    Brabec, Libor - Kočiřík, Milan
    Polycrystalline Wafers of Silicalite-1 etched by HF Acid and Viewed by SEM.
    [Polykrystalické vrstvy silikalitu-1 leptané kyselinou fluorovodíkovou a zobrazované elektronovým mikroskopem.]
    Applied Surface Science. Roč. 228, č. 1 (2004), s. 1-4. ISSN 0169-4332. E-ISSN 1873-5584
    R&D Projects: GA ČR GA104/01/0945; GA AV ČR IAA1040101
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z4040901
    Keywords : HF etching * grain boundaries visualization * carbon residue
    Subject RIV: CF - Physical ; Theoretical Chemistry
    Impact factor: 1.497, year: 2004

    HF etching of polycrystalline silicalite-1 wafers enables to visualize grain boundaries of non-calcined crystals by dissolution of a phase between individual crystals as well as to reveal resistant shells of calcined crystals by dissolution of a crystal bulk.

    Leptání polykrystalických vrstev pomocí HF umožňuje zviditelnit hranice zrn. V případě nekalcinovaných krystalů dochází k rozpouštění mezikrystalové fáze, v případě krystalů kalcinovaných se ukazuje, že se rozpouštějí vnitřky krystalů, zatímco jejich slupky odolávají.

    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0000025

     
     
Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.