Scanning Alternative to the LEEM

0051198 - ÚPT 2007 RIV JP eng C - Conference Paper (international conference)
Müllerová, Ilona - Hrnčiřík, Petr
Scanning Alternative to the LEEM.
[Rastrující provedení metody LEEM.]
The 5th International Conference on LEEM/PEEM. Himeji: JSRRI, 2006, s. 26.
[LEEM/PEEM /5./. Himeji (JP), 15.10.2006-19.10.2006]
R&D Projects: GA ČR GA102/05/2327
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : LEEM * SLEEM * cathode lens * low energy electrons
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering

The principle of the cathode lens, normally used in the low energy electron microscope (LEEM) for deceleration of the primary electron wave and for acceleration of the diffracted waves, is presented as an element enabling one to perform also the scanning electron microscopy at arbitrarily low electron energies.

Princip katodové čočky, standardně používané v nízkoenergiovém elektronovém mikroskopu (LEEM) ke zpomalení primární elektronové vlny a k urychlení difraktovaných vln, je prezentován jako element umožňující provozovat také rastrovací elektronovou mikroskopii při libovolně nízkých energiích elektronů.
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0141121