Number of the records: 1  

Sestava elektrického obvodu symetrického a asymetrického buzení iontové pasti

  1. 1.
    0580392 - ÚPT 2024 RIV cze P1 - User Module
    Číp, Ondřej - Jedlička, Petr - Čížek, Martin - Pham, Minh Tuan
    Sestava elektrického obvodu symetrického a asymetrického buzení iontové pasti.
    [Electric circuit assembly of the symmetric and asymmetric excitation of an ion trap.]
    2023. Owner: Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. Date of the utility model acceptance: 31.05.2023. Utility model number: 37086
    Institutional support: RVO:68081731
    Keywords : Micromotion * symmetric excitation * asymmetric excitation * ion trap * radiofrequency drive
    OECD category: Optics (including laser optics and quantum optics)
    https://isdv.upv.gov.cz/doc/FullFiles/UtilityModels/FullDocuments/FDUM0037/uv037086.pdf

    Mikropohyb zachycených iontů vnáší do kvantového systému významné perturbace. Hlavní účinky jsou Dopplerův posuv a Starkův posuv druhého řádu. Sestava elektrického obvodu symetrického a asymetrického buzení iontové pasti zahrnuje technické řešení sestavy elektrického buzení iontové pasti, pomocí které je možné provádět experimenty za účelem maximální možné eliminace mikropohybů iontů nebo atomů Coulombova krystalu v iontové pasti, zvláště pohybů v její ose z, tedy v podélné ose.

    The micromotion of trapped ions introduces significant perturbations into the quantum system. The main effects are Doppler shift and the second-order Stark shift. The assembly of the electrical circuit of the symmetric and asymmetric excitation of the ion trap includes the technical solution of the assembly of the electrical excitation of the ion trap, with the help of which it is possible to carry out experiments in order to eliminate as much as possible micro-movements of ions or atoms of the Coulomb crystal in the ion trap, especially movements in its z-axis, i.e. in the longitudinal axis.
    Permanent Link: https://hdl.handle.net/11104/0349168

     
     
Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.