Přínos moderní rastrovací elektronové mikroskopie pro studium ocelí

0535190 - ÚPT 2021 RIV CZ cze J - Journal Article
Mikmeková, Šárka - Ambrož, Ondřej - Piňos, Jakub
Přínos moderní rastrovací elektronové mikroskopie pro studium ocelí.
[Contribution of modern scanning electron microscopy for the study of steels.]
Jemná mechanika a optika. Roč. 65, č. 6 (2020), s. 171-174. ISSN 0447-6441
R&D Projects: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institutional support: RVO:68081731
Keywords : SEM * characterization of microstructure * TRIP steel * COST F * thin layers and coating
OECD category: Materials engineering
Method of publishing: Limited access
https://jmo.fzu.cz/sites/jmo.fzu.cz/files/oldweb/2020/2020-06/jmo_20_06_obsah.pdf

Moderní rastrovací elektronové mikroskopy (SEM) jsou vybaveny velmi sofistikovaným detekčním systémem, což uožňuje pozorovat povrch vzorků při různých energiích dopadu primárních elektronů. Signální elektrony jsou velice efektivně filtrovány základě jejich emisního úhlu a energie, se kterou byly emitovány ze vzorku. Filtrace signálních elektronů umožňuje optimalizovat zobrazovací podmínky v mikroskopu a získat požadovanou informaci o vzorku. Současné SEM instrumenty je možno operovat na široké škále urychlovacích napětí, a to od 30 keV až do jednotek elektronvoltů. Kombinace těchto dvou faktorů, t.j. sofistikované detekční strategie a možnosti používání extrémně nízkých dopadových energií primárního svazku, vede k možnosti zisku nových kontrastů a preciznější charakterizaci struktury ocelí. Cílem této studie je demonstrovat výhody moderní rastrovací elektronové mikroskopie pro studium ocelí. Budou prezentovány konkrétní aplikace, jako je zobrazení jednotlivých fází ve vysokopevnostních ocelích, zobrazování jemných Mn oxidů na povrchu oceli, mapování Lavesovy fáze v COST F oceli, studium povrchových vrstev a další.



Modern scanning electron microscopes (SEM) are equipped with very sophisticated detection system and allow to observe the surface of samples at different impact energies of primary electrons. The signal electrons are very efficiently filtered based on their emission angle and the energy with which they where emitted from the sample. Filtering of signal electrons allows us to optimize the imaging conditions in the microscope and obtain the required information about the sample. SEM instruments can be operated on a wide range of accelerating voltages, from 30 keV up to eV units. The combination of these two factors, i.e. sophisticated detection strategies and the possibility of using extremely low impact energies of the primary beam, leads to the possibility of gaining new contrast and more precise characterization of the steel structure.The aim of this study is to demonstrate advantages of modern scanning electron microscopy for the study of steels. specific applications will be presented, such as imaging of individual phases in high-strength steels, imaging of fine Mn oxides on the steel surface, mapping of the Laves phase in COST F steel, study of surface layers and more.

Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0313276