Laboratorní RTG profilometr pro nedestruktivní zkoumání vrstevnaté struktury pomocí ostré hrany plochého svazku

0518610 - ÚTAM 2020 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
Vavřík, Daniel - Žemlička, J.
Laboratorní RTG profilometr pro nedestruktivní zkoumání vrstevnaté struktury pomocí ostré hrany plochého svazku.
[Laboratory RTG profilometer devoted for non-destructive inspection of layered structure utilizing sharp edge planar beam.]
Internal code: NAKI006_PROFILOMETR ; 2019
Technical parameters: Funkční vzorek je využíván pracovišti ÚTAM AV ČR a ÚTEF ČVUT. Umístění: ÚTAM, Laboratoř neutronové a rentgenové radioskopie, místnost 116
Economic parameters: Umožňuje rentgenová měření, fluorescenční zobrazování, vytváření digitalizovaných 3D modelů, splňuje funkční a ekonomické podmínky malosériové výroby
R&D Projects: GA MK(CZ) DG18P02OVV006
Keywords : stratigraphy * in-situ X-ray methods
OECD category: Materials engineering

RTG profilometr je určen pro nedestruktivní zkoumání vrstevnaté struktury ležící na substrátu. Zkoumaný objekt je ozařován rovinným a ostrým RTG svazkem , který dopadá na povrch pod velmi ostrým úhlem. Rozptýlené a fluorescenční fotony jsou zaznamenávány dirkovou kamerou osazenou polovodičovým pixelovým detektorem. Tloušťky vrstev jsou měřeny s mikrometrickou přesností díky analýze signálu, vzniklého na ostré hraně RTG svazku. Zařízení je primárně určeno pro zkoumání polychromie středověkých deskových maleb, může být ale využito i obecněji.

RTG profilometer targets the inspection of a layered structure deposited onto a massive substrate. The investigated object is irradiated by a planar, sharp X-ray beam passing over the surface at an acute angle. The scattered and XRF photons are recorded by a pinhole camera equipped with a semiconductor pixelated detector. Measurement of the layer thicknesses with micrometric precision is obtained by analyzing changes in the signal produced at the sharp edge of the X-ray beam. The device primarily targets the investigation of medieval wooden panel paintings based on polychromy but it can more general.
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0303715