EDSpot

0518547 - ÚPT 2020 RIV CZ cze L4 - Software
Radlička, Tomáš - Oral, Martin
EDSpot.
[EDSpot.]
Internal code: APL-2019-24 ; 2019
Technical parameters: Multiplatformní modul v pro programovací jazyk Julia. Využívá vícevláknové procesy a umožňuje výpočet na grafických kartách. Software je používán pro výpočet profilů proudové hustoty elektronových svazků v blízkosti obrazu
Economic parameters: Software realizovaný při řešení grantu a využívaný příjemcem s předpokladem smluvního využití s ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Tomáš Radlička, Ph.D. radlicka@isibrno.cz
R&D Projects: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institutional support: RVO:68081731
Keywords : elektron difraction * current density profiles * resolution
OECD category: Electrical and electronic engineering
http://www.isibrno.cz/cs/edspot-simulace-elektronove-stopy

EDSpot je software pro výpočet vlnové funkce elektronu a profilů svazku v blízkosti roviny obrazu na základě elektronové difrakce na aperturách. Jsou brány v úvahu aberace, prostorová i časová nekoherence. Jsou zvlášť řešeny osově symetrické systémy, které jsou počítané pomoci 1D difrakčního integrálu a osově nesymetrické systému počítané pomoci 2D difrakčního intgralu, při jehož řešení využíváme algoritmus FFT. Znalost proudové hustoty umožňuje výpočet rozlišení, obecnou simulaci obrazu ve skenovacím elektronovém mikroskopu, vlnová funkce pak lze použít pro simulaci obrazu v skenovacím transmisním elektronovém mikroskopu. Program umožňuje výpočet difrakce na obecných 2D amplitudových i fázových aperturách (kruhových, anulárních, vortexových aperturách, fázových destičkách, ...).

EDSpot is a new software for calculation of wave functions, point spread functions (PSFs), and current density profiles in the vicinity of the image in the electron-optical instruments. The wave function is calculated from the diffraction integral, which includes the effect of aberrations. Time and space incoherence is then included during PSF or current density calculations. The program covers separately axially symmetrical systems by the 1D diffraction integral, and general, axially non-symmetrical systems by the 2D diffraction integral, where the utilization of the FFT algorithm increases the calculation speed. The beam current density determines the resolution of the microscope, and it is an input parameter for image simulations in scanning electron microscopy. The wave function is, in turn, necessary in image simulations in scanning transmission electron microscopy. The software enables calculation of general 2D amplitude and phase apertures (circular, annular, and vortex apertures, phase-plates, ...)
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0303665