Bezpečné mazání paměťových čipů pomocí elektromagnetického pulsu – etapa 1

0499440 - FZÚ 2019 RIV CZ cze V - Research Report
Fitl, Přemysl - Vrňata, M. - Fišer, L. - Novotný, Michal - Scholtz, V. - Vlček, J. - Tomeček, D.
Bezpečné mazání paměťových čipů pomocí elektromagnetického pulsu – etapa 1.
[Secure erasing memory chips using electromagnetic pulse - phase 1.]
Praha: NÚKIB, 2018. 40 s.
Grant - others:NÚKIB(CZ) 216/2017-NÚKIB-I/410
Institutional support: RVO:68378271
Keywords : flash memory * memory erasing * electromagnetic pulse
OECD category: Electrical and electronic engineering

Předmětem smluvního výzkumu bylo provedení rešerše principu funkce pamětí typu flash aktuálně dostupných na trhu. Souhrnná výzkumná zpráva popisuje technologický pokrok v jejich vývoji, možnosti vyčítání uložených/smazaných dat dostupnými laboratorními technikami a interakci těchto pamětí s elektromagnetickým pulzem.
Výstup byl předán zástupcům NÚKIB dne 29.3.2018. Projekt byl splněn, za vypracování této zprávy byla fakturována sjednaná částka.



The subject of this contractual research was to perform study of technologies and principles of flash memories currently available on the market. The research report focuses on technological advancements in their development, the readability of stored / deleted data by available laboratory techniques, and the interaction of these memories with the electromagnetic pulse.
The outcome was handed over to NUKIB representatives on 29 March 2018.
The project was fulfilled, the agreed amount was invoiced for this report.



Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0291641