Spektrometr energií velmi pomalých elektronů

0499073 - ÚPT 2019 RIV cze P1 - User Module
Frank, Luděk - Klein, Pavel - Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona - Radlička, Tomáš - Piňos, Jakub - Sýkora, Jiří
Spektrometr energií velmi pomalých elektronů.
[A spectrometer of energies of very slow electrons.]
2018. Owner: Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. Date of the utility model acceptance: 10.12.2018. Utility model number: 32425
R&D Projects: GA TA ČR TG03010046; GA MŠMT(CZ) LO1212
Institutional support: RVO:68081731
Keywords : time-of-flight spectrometer * energy distribution of electrons * slow electrons * two-dimensional crystals * graphene
OECD category: Electrical and electronic engineering
https://isdv.upv.cz/doc/FullFiles/UtilityModels/FullDocuments/FDUM0032/uv032425.pdf

Spektrometr velmi pomalých elektronů podle technického řešení je uzpůsoben pro použití v rastrovacím elektronovém mikroskopu s velmi pomalými elektrony o energii pod 100 eV, v němž se preparát nachází na vysokém záporném potenciálu zajišťujícím zpomalení primárních elektronů před dopadem na preparát. Řešení je optimalizováno pro zachycení maximálního úhlového rozsahu elektronů prošlých tenkým preparátem, zajišťující dosažení vysoké světelnosti spektrometru, a pro minimalizaci rozptylu časů průletu elektronů emitovaných pod různými úhly vůči optické ose, zajišťující dosažení vysokého rozlišení v energiovém spektru.

Spectrometer of very slow electrons according to technical solution je designed for implementation in a scanning electron microscope with very slow electrons of energies below 100 eV, in which the sample is connected to a high negative potential securing retardation of the primary electrons before their impact on the sample. The design is optimized for acquisition of a high angular range of electrons transmitted through a thin sample in order to obtain high efficiency of the spectrometer, as well as for minimum spread of the times of flight for electrons emitted at various angles with respect to the optical axis in order to secure high resolution in the energy spectrum.
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0291356