Holografické měřidlo pro free form povrchy

0486011 - ÚFP 2018 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
Kredba, Jan - Lédl, Vít - Psota, Pavel - Vojtíšek, Petr
Holografické měřidlo pro free form povrchy.
[Hologaphical device for measurement of freeform surfaces.]
Internal code: DP0006-2016-FV2 ; 2016
Technical parameters: Holografické měřidlo osvětluje povrch z 16-ti směrů různými vlnovými délkami (v rozmezí 770nm - 850nm) a pomocí CMOS senzoru s velikostí 2016x2016 pixelů (velikost pixelu 3.1um x 3.1um) sbírá odražené a rozptýlené světlo od objektu. Na čipu se interferencí s referenční rovinnou vlnou vytváří digitální hologramy, které jsou pomocí algoritmů vyhodnoceny do podoby odchylky tvaru plochy od jejího nominálního předpisu.
Economic parameters: Měření freeform povrchů bez nutnosti skenování povrchu. Vhodné pro broušené povrchy. Urychlení samotného měření i úkony s měřením spojené. Dosáhnutí větší efektivity výrobního řetězce.
R&D Projects: GA TA ČR(CZ) TA03010893
Institutional support: RVO:61389021
Keywords : Form measurement * digital holography * freeform surfaces * multiwavelength
OECD category: Electrical and electronic engineering

Funkční vzorek je měřidlo založené na principu více-vlnné digitální holografie. Metoda využívá měření daného povrchu při osvětlení z několika různých směrů a následného složení dílčích měření pomocí metody nejmenších čtverců. Tato metoda umožňuje měřit rovinné, sférické, asférické i tzv. free-form tvary broušených povrchů.

A functional sample is a measurement device based on the principle of multi-wavelength digital holography. The method enables to measure the surface shape from different illumination directions and subsequently the measurements are composed using the least square method. This method makes it possible to measure planar, spherical, aspherical and so-called free-form shapes of ground surfaces.
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0280935