Number of the records: 1  

Nanostruktura přirozeného a vodivou vrstvou pokrytého povrchu epoxidové pryskyřice s SiO2 nanočásticemi v podmínkách klasického REM a EREM

  1. 1.
    0481106 - ÚPT 2018 RIV CZ cze J - Journal Article
    Hudec, Jiří - Neděla, Vilém - Tihlaříková, Eva
    Nanostruktura přirozeného a vodivou vrstvou pokrytého povrchu epoxidové pryskyřice s SiO2 nanočásticemi v podmínkách klasického REM a EREM.
    [Nano-structure of natural and conductive layer coated surface of epoxy resin with SiO2 nanoparticles in terms of classical SEM and ESEM.]
    Jemná mechanika a optika. Roč. 62, č. 3 (2017), s. 75-77. ISSN 0447-6441
    R&D Projects: GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
    Institutional support: RVO:68081731
    Keywords : epoxyresim * nanoparticles * conductive layer * morphological artifacts * ESEM
    OECD category: Nano-materials (production and properties)

    Článek prezentuje současné možnosti laboratoře environmentální elektronové mikroskopie ÚPT AVČR v Brně při zobrazování povrchových nanostruktur epoxidové pryskyřice s nanočásticemi. Výsledky poukazují na morfologicé artefakty vznikající pokovením vzorku či jeho odpařováním vlivem tepelných účinků elektronového svazku a dále přinášejí možnost porovnání zobrazení vzorků v podmínkách blížících se vakuu a při relativně vysokém tlaku plynů environmentálního rastrovacího elektronového mikroskopu. Vzorky jsou v podmínkách relativně vysokého tlaku plynů zobrazovány ve zcela přirozeném stavu a vzhledem k tomu s velmi vysokým rozlišením pomocí upraveného EREM QUANTA 650 FEG.

    The paper presents the current possibilites of the environmental electron microscopy laboratory at the ISI CAS in Brno in imaging epoxy resin surface nanostructures with nanoparticles. The results show morphological artifacts emerging due to sample coating or its evaporation caused by the thermal effects of the electron beam, and further provide a comparison between samples observed under the conditions approaching vacuum and samples observed under a relatively high gas pressure in the environmental scanning electron microscope. Samples are displayed in a completely natural state in a relatively high gas pressureb and, given the environmental conditions, at a very high resolution in a modified ESEM QUANTA 650 FEG.
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0276712

     
     
Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.