Difrakce zpětně odražených elektronů jako metoda zkoumání hranic zrn v polykrystalických materiálech

0427312 - FZÚ 2015 RIV CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
Malachov, Martin - Jäger, Aleš
Difrakce zpětně odražených elektronů jako metoda zkoumání hranic zrn v polykrystalických materiálech.
[Electron back-scattered diffraction as a method for grain boundary analysis in polycrystalline materials.]
Sborník přednášek studentské vědecké konference JuveMatter 2013. Praha: České vysoké učení technické-nakladatelství ČVUT, 2013 - (Kunz, J.), s. 148-154. ISBN 978-80-01-05359-1.
[JuveMatter 2013. Horní Lomná (CZ), 09.05.2013-13.05.2013]
R&D Projects: GA ČR GBP108/12/G043
Institutional support: RVO:68378271
Keywords : EBSD * crystalography * grain boundary
Subject RIV: BM - Solid Matter Physics ; Magnetism

Rozvoj analytických technik řádkovacího elektronového mikroskopu (SEM) umožnil získat velmi přesné mikrostrukturní informace o krystalografii (EBSD) a chemickém složení (EDS) mnoha materiálů. Cílem prezentace je vysvětlit princip SEM-EBSD, demonstrovat jeho možnosti a nastínit jeho využití při analýze hranic zrn v polykrystalickém materiálu.

Current development of analytical techniques in scanning electron microscopy allowed us to obtain precise information about the crystallography and chemical composition of materials. Aim of this work is to explain electron back-scatter diffraction (EBSD) technique and its utilization in grain characterization of polycrystalline materials.
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0232884