0399684 - ÚJF 2014 CZ cze L4 - Software
Novotný, Jiří - Havránek, Vladimír
LabWiew program pro Profile Beam Monitor.
[LabWiew program for Profile Beam Monitor.]
Internal code: IMPL-F2 ; 2010
Technical parameters: SW může pracovat pouze se stejným HW pro který je napsán
Economic parameters: Určení polohy a tvaru iontového svazku
Institutional support: RVO:61389005
Keywords : Tandetron * profile beam monitor * oscilloscope
Subject RIV: BG - Nuclear, Atomic and Molecular Physics, Colliders

Funkční vzorek je programovým rozšířením komerčního Profile Bean Monitoru firmy NEC. Původně se k monitoru musel připojit osciloskop a poměrně složitě měřit profil iontového svazku. Program (napsaný v Labview) nahrazuje osciloskop a měření se zjednoduší a zpřehlední. Formou grafů se pak zobrazují píky v rovinách os X a Y, kvantita což je barevně rozlišený řez os X a Y a integrační spektra v osách X a Y. Protože se nemusí připojovat osciloskop a rychle zobrazuje informaci o tvaru a umístění iontového svazku, šetří tím čas operátora a strojový čas urychlovače.

The functional sample program is expanding the commercial Beam Profile Monitor from NEC Ltd. Originally, the monitor had to be connected to an oscilloscope and it was quite complicated to measure the ion beam profile. The program (written in Labview, Austin, USA) replaced the oscilloscope and the measurement became simpler and clearer. The programme displays peaks in planes X and Y, color-coded quantity of cutting axes X and Y, and the integral spectrum in X and Y. Since it is not necessary to connect to the oscilloscope, the information about the shape and location of the ion beam is quickly graphically indicated, saving the operator time and the machine time of the accelerators.
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0226935