Number of the records: 1  

Systém pro bezkontaktní diagnostiku koncových měrek

  1. 1.
    0375766 - ÚPT 2012 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
    Číp, Ondřej - Buchta, Zdeněk - Lazar, Josef - Mikel, Břetislav - Čížek, Martin
    Systém pro bezkontaktní diagnostiku koncových měrek.
    [System for contactless gauge blocks diagnostics.]
    Internal code: 2011-03 ; 2011
    Technical parameters: Funkční vzorek realizovaný v rámci řešení grantu: bezkontaktní kalibrace měrek do 100 mm délky, kapacita až 126 kusů měrek v jednom měření. Uzavřena Smlouva o využití výsledku s MPO ze dne 30.6.2011.
    Economic parameters: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu s předpokladem smluvního využití s ekonomickým přínosem i po jeho ukončení.
    R&D Projects: GA MPO 2A-1TP1/127; GA MŠMT ED0017/01/01
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
    Keywords : low-coherence interferometry * gauge block * nanometrology
    Subject RIV: BH - Optics, Masers, Lasers

    Systém pro bezkontaktní kalibraci koncových měrek kombinující princip interferometrie nízké koherence a laserové interferometrie. Realizované uspořádání kombinuje Dowellův a Michelsonův interferometr pro zajištění stanovení délky koncové měrky s přímou návazností na primární normál délky. Monitorování čel měrky digitální kamerou umožňuje rovněž 3D diagnostiku povrchu čel měrky. Princip měření je chráněn českým patentem č. 302948.

    System for contactless gauge block calibration combines low-coherence interferometry and laser interferometry. An designed setup combines Dowell interferometer and Michelson interferometer to ensure a gauge block length determination with direct traceability to the primary length standard. By monitoring both gauge block sides with a digital camera gauge block 3D surface measurements are possible too. The principle presented is protected by the Czech national patent No. 302948.
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0208338

     
     
Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.