Number of the records: 1
AFM induced electrostatic charging of nanocrystalline diamond on silicon
- 1.0337611 - FZÚ 2010 DE eng A - Abstract
Verveniotis, Elisseos - Čermák, Jan - Kromka, Alexander - Rezek, Bohuslav
AFM induced electrostatic charging of nanocrystalline diamond on silicon.
[AFM indukované elektrostatické nabíjení nanokrystalických diamantů na silikonu.]
IWEPNM 2009. Berlin: Technische Universität Berlin Institut für Festkörperphysik, 2009. s. 171-171. ISBN N.
[IWEPNM 2009 International Winterschool on Electronic Properties of Novel Materials /23./. 07.03.2009-14.03.2009, Kirchberg, Tirol]
R&D Projects: GA ČR GD202/09/H041; GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510
Institutional research plan: CEZ:AV0Z10100521
Keywords : nanocrystalline diamond * atomic force microscopy * electrostatic charging * Kelvin force microscopy
Subject RIV: BM - Solid Matter Physics ; Magnetism
The manuscript describes observed limits of charge storage in thin diamond film using the sharp probe of atomic force microscope. The electrostatic charge can be both stored and deleted depending on the applied bias voltage polarity.
Publikace popisuje možnosti a omezení uložení elektrostatického náboje do tenké diamantové vrstvy pomocí ostrého hrotu mikroskopu atomárních sil. Elektrostatický náboj může být uložen či zpětně vymazán v závislosti na polaritě přiloženého napětí.
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0181565
Number of the records: 1